注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整，暫不接受個人委托測試，望見諒。
北檢院檢測機(jī)構(gòu)介紹
電子遷移率測試應(yīng)該去哪里?北檢院檢測平臺-[科研實驗室]可提供電子遷移率測試服務(wù)，北檢院科研實驗室，可根據(jù)相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試，并提供測試報告，可在全國范圍內(nèi)使用并被認(rèn)可。
測試周期：7-15個工作日
測試費用：工程師根據(jù)檢測項目進(jìn)行報價
測試范圍
碳納米管，半導(dǎo)體，MOS管，硅，石墨烯，銅，不同氟取代基對苝酰亞胺，晶體管，氮化鎵，低溫下二硫化鉬，磷化銦，應(yīng)變硅，纖鋅礦，單晶硅，生物分子膜門電極，藍(lán)寶石，金屬氧化物半導(dǎo)體，碲鎘汞晶體等。
測試項目
應(yīng)變電子遷移率測試，室溫下正電子遷移率測試，高速電子遷移率測試，電子遷移率壓力效應(yīng)測試，電子遷移率晶體管器件電流坍塌效應(yīng)與界面熱阻溫度測試等。
測試參考標(biāo)準(zhǔn)
IEC 62951-2-2019 半導(dǎo)體器件.柔性和可伸展半導(dǎo)體器件.第2部分:柔性器件的電子遷移率、亞閾值擺幅和閾值電壓的評估方法
IEC 62951-2:2019 半導(dǎo)體器件.柔性和可伸展半導(dǎo)體器件.第2部分:柔性器件的電子遷移率、亞閾值擺幅和閾值電壓的評估方法
GB/T 4326-2006 非本征半導(dǎo)體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測量方法
SJ 3244.1-1989 砷化鎵和磷化銦材料霍爾遷移率和載流子濃度的測量方法
SJ/T 11488-2015 半絕緣砷化鎵電阻率、霍爾系數(shù)和遷移率測試方法
GB/T 4326-1984 非本征半導(dǎo)體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測量方法
北檢院測試服務(wù)流程是什么?
1、確定需求，與工程師進(jìn)行溝通，提供方案。
2、接收樣品，多渠道接收樣品(支持郵寄、上門取樣)。
3、測試測試，工程師進(jìn)行樣品測試。
4、出具報告，根據(jù)樣品測試結(jié)果，提供科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膱蟾妗?/p>
5、售后服務(wù)，寄送發(fā)票及報告，跟進(jìn)后續(xù)技術(shù)支持。
北檢院檢測優(yōu)勢有哪些?
1、多個實驗中心：實驗室管理中心下設(shè)檢測檢測中心、科研檢測中心、X射線應(yīng)用中心。
2、面向眾多學(xué)科：面向物理、化工化學(xué)、材料、納米、環(huán)境、電子、能源等眾多學(xué)科。
3、擁有多臺精密檢測儀器。
4、從事多項工作：能夠從事材料微觀結(jié)構(gòu)檢測、定性和定暨檢測、材料性能檢測、材料質(zhì)量綜合評定等工作。
5、全天化服務(wù)時間：提供24小時開放服務(wù)、網(wǎng)絡(luò)化管理。
6、機(jī)構(gòu)檢測能力：具備向校內(nèi)外科學(xué)研究和品質(zhì)鑒定提供公正、科研檢測數(shù)據(jù)能力的重要機(jī)構(gòu)。
以上就是關(guān)于電子遷移率測試的相關(guān)內(nèi)容，更多測試需求，你可聯(lián)系我們在線實驗室工程師，為您詳細(xì)洽談實驗周期及流程問題!
檢測流程
1、收到客戶的檢測需求委托。
2、確立檢測目標(biāo)和檢測需求
3、所在實驗室檢測工程師進(jìn)行報價。
4、客戶前期寄樣，將樣品寄送到相關(guān)實驗室。
5、工程師對樣品進(jìn)行樣品初檢、入庫以及編號處理。
6、確認(rèn)檢測需求，簽定保密協(xié)議書，保護(hù)客戶隱私。
7、成立對應(yīng)檢測小組，為客戶安排檢測項目及試驗。
8、7-15個工作日完成試驗，具體日期請依據(jù)工程師提供的日期為準(zhǔn)。
9、工程師整理檢測結(jié)果和數(shù)據(jù)，出具檢測報告書。
10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。
檢測實驗室（部分）
檢測優(yōu)勢
1、綜合性檢測技術(shù)研究院等多項榮譽(yù)證書。
2、檢測數(shù)據(jù)庫知識儲備大，檢測經(jīng)驗豐富。
3、檢測周期短，檢測費用低。
4、可依據(jù)客戶需求定制試驗計劃。
5、檢測設(shè)備齊全，實驗室體系完整
6、檢測工程師專業(yè)知識過硬，檢測經(jīng)驗豐富。
7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務(wù)。
8、多家實驗室分支，支持上門取樣或寄樣檢測服務(wù)。
結(jié)語
以上是關(guān)于電子遷移率測試的檢測服務(wù)介紹，僅展示了部分檢測樣品和檢測項目，如有其它需求或疑問請咨詢在線工程師。
